量子エレクトロニクス研究室(畑・永井グループ)

High-brightness electron, ion and photon beam for material analysis

2014年度


[学術論文]

  1. Investigation of stability and charge state of Ne and Ar gas field ion source by time-of-flight mass spectrometry S. Nagai, T. Iwata, R. Okawa, K. Kajiwara, K. Hata Jap. J. Appl. Phys. 53, 058004 (2014).

[国際会議]

  1. 7th International Symposium on Surface Science 201411 松江市 “Time of flight analysis offield ionized He in mixtures with Ne or Ar” K. Komaki, S. Nagai, T. Iwata, K. Kajiwara, K. Hata
  2. 10th international Workshop on Ionizing Radiation Monitoring 201502 茨城県大洗市 “Global Ionizing Radiation Monitoring Network [II] SrI2(Eu)-scintillator for γ−ray Spectroscopy” Junji Yosii, Shigekazu Nagai, Ken kawamura, Yoshihide Kimura, Renzo Ikeda, Ryuichi Shimizu, Nobuhiro Takeuchi, Akio Ohta, Akihiro Sakai, Makoto Sugiyama, Yuka Yanagida and Toshikazu Suzuki
[国内会議]

  1. 第75回 応用物理学会秋季学術講演会 201409 北海道大学 “Ne,Ar混合下における電界電離Heイオンビームの飛行時間分析小牧啓介,永井滋一,岩田達夫,梶原和夫,畑浩一

  2. 第62回 応用物理学会春季学術講演会(201503) 東海大学 希ガス混合下における電界電離イオン種の混在比の電界依存性 小牧 啓介、永井 滋一、岩田 達夫、梶原 和夫、畑 浩一

  3. 第62回 応用物理学会春季学術講演会(201503) 東海大学 スピン方向を制御可能な電界放出型偏極電子源に向けたW(001)面上に堆積されたCr薄膜の結晶構造の観察 阪井 那央哉、永井 滋一、岩田 達夫、梶原 和夫、畑 浩一