量子エレクトロニクス研究室（永井グループ）

High-brightness electron, ion and photon beam for material analysis

電界イオン顕微鏡（FIM : Field Ion Microscope)




ホームページ作成用2019


スライド5

W<110>エミッタ

スライド6

W<111>エミッタ

スライド7

Ir<001> エミッタ

CMG(001)

Co2MnGa[001]

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新着情報(Blog)
メンバー
研究室の年間予定
研究内容
・電界電離型ガスイオン源
・電界放出型スピン偏極電子源
・液体金属電子源を用いたX線顕微鏡
・放出電子のエネルギー分析
・アトムプローブ分析
・電界放出顕微鏡(FEM)
・電界イオン顕微鏡(FIM)
研究業績
アクセス
リンク

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新４年生募集
量子エレクトロニクス研究室では，次世代電子顕微鏡，分析装置の性能向上を目指した電子源，イオン源の開発に携わってくれる学生を募集しています。研究を通じて，装置開発（電子回路，制御ソフトウェア），問題解決に必要な経験，知識を得てください。元気で明るい学生を募集しています。
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連絡先（永井滋一）
Tel：059-231-9769
Email: nagai[at]elec.mie-u.ac.jp
※[at] を＠に変えてください．